美國MASZetaZF400型多功能超聲電聲法粒度儀
美國MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年歷史，是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發和生產型企業。 公司研發的納米粒度及Zeta電位儀系列產品，解決了目前市面上光學方法無法克服的納米粒度檢測難題，如光學方法必須要對樣品進行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對于復雜體系無法給出真實的粒度分布等 。目前，美國MNS公司納米粒度及Zeta電位分析儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成，可以為各行業提供專業的粒度和Zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發生器發出一定頻率和強度的超聲波，由于不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收、散射作用不同， 導致聲波衰減程度不同。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細準確的粒度分布。

主要特點：

1）能分析多種分散物的混合體；

2）無需依賴Double Layer模式，準確地判定等電點；

3）可適用于高導電(highly conducting)體系；

4）可排除雜質及對樣品污染的干擾；

5）可準確測量無水體系；

6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量；

7）樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；

8）具有自動電位滴定功能；
美國MASZetaZF400型多功能超聲電聲法粒度儀

優于光學方法的技術優勢：

1)被測樣品無需稀釋；

2)排除雜質及對樣品污染的干擾；

3)不需定標；

4)能分析多種分散物的混合體；

5)高精度；

6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um

超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀

優于electroactics方法的技術優勢：

1)無需定標；

2)能測更寬的粒徑范圍；

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

6)可適用于無水體系；

7)可適用于高導電(highly conducting)體系；

優于微電泳方法的技術優勢：

1)無需稀釋，固合量高達60%；

2)可排除雜質及對樣品污染的干擾；

3)高精度(±0.1mv)；

4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影響測量；

6)對流(convection)不影響測量；

7)可準確測量無水體系；

技術參數：

1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；

2)可測量參數：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減；

3)Zeta電位測量范圍：+/-500 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數)；

6)樣品體積：30-230ml；

7)PH范圍：0~14;

8)電導率范圍：0~10 s/m